【蔡司 ZEISS X 愛爾特 artopticalshop】i.Profiler® plus 前導波儀

i.Profiler ®plus四合一的緊密系統包括波前像差、自動驗光、ATLAS角膜地形圖測量以及角膜曲率測量功能。

測量過程完全自動化,同時配搭易於使用的觸控式螢幕控制台,只需要約60秒即可完成雙眼所有測量,

而且,還可以分析整個瞳孔大小,呈現眼睛的光度分佈。這就是i.Profiler® plus有 別於一般自動驗光產品之處,

也是蔡司鏡片得以結i.Scription® 技術的關鍵。

.高解析度Hartmann-Shack波前像差感測器。於7毫米瞳孔孔徑範圍內的1500點進行波前像差採樣

.可調較式下巴托架提供更舒適的測量姿勢

.測量過程完全自動化

.通過蔡司i.Com mobile遙控蔡司i.Profiler,並將顧客的 i.Scription Analysis顯示在iPad上。

.使用蔡司i.Scription技術改善夜間視覺

.功能架構清楚易明,有助於資料的收集、評估、呈現和分析

.搭配觸控式螢幕控制台,60秒內快速完成所有雙眼測量

.i.Profilerplus的測量數據可儲存到i.Com資料管理系統中,可以用於將來的諮詢、訂購和建檔,無需進一步測量。另可與一般PMS系統連接,確保流程順暢。i.Com和i.Profiler® plus可結合成為一個全面套裝解決方案。

.i.Profiler® plus的特點為高解析度波前像差測量和角膜地形圖測量,提供所有評估顧客眼睛屈光狀態所需要的資料。

.分析模式可以將顧客視力所受到的像差影響視覺化,最高包括達到第7階Zernike像差。此外,通過點擴散函數可以類比i.Scription®技術的‎優點。

 

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