【蔡司 ZEISS X 愛爾特 artopticalshop】i.Profiler® plus 前導波高階像差分析儀

i.Profiler ®plus四合一的緊密系統包括波前像差、自動驗光、ATLAS角膜地形圖測量以及角膜曲率測量功能。

測量過程完全自動化，同時配搭易於使用的觸控式螢幕控制台，只需要約60秒即可完成雙眼所有測量，

而且，還可以分析整個瞳孔大小，呈現眼睛的光度分佈。這就是i.Profiler® plus有 別於一般自動驗光產品之處，

也是蔡司鏡片得以結i.Scription® 技術的關鍵。

．高解析度Hartmann-Shack波前像差感測器。於7毫米瞳孔孔徑範圍內的1500點進行波前像差採樣

．可調較式下巴托架提供更舒適的測量姿勢

．測量過程完全自動化

．通過蔡司i.Com mobile遙控蔡司i.Profiler，並將顧客的 i.Scription Analysis顯示在iPad上。

．使用蔡司i.Scription技術改善夜間視覺

．功能架構清楚易明，有助於資料的收集、評估、呈現和分析

．搭配觸控式螢幕控制台，60秒內快速完成所有雙眼測量

．i.Profilerplus的測量數據可儲存到i.Com資料管理系統中，可以用於將來的諮詢、訂購和建檔，無需進一步測量。另可與一般PMS系統連接，確保流程順暢。i.Com和i.Profiler® plus可結合成為一個全面套裝解決方案。

．i.Profiler® plus的特點為高解析度波前像差測量和角膜地形圖測量，提供所有評估顧客眼睛屈光狀態所需要的資料。

．分析模式可以將顧客視力所受到的像差影響視覺化，最高包括達到第7階Zernike像差。此外，通過點擴散函數可以類比i.Scription®技術的‎優點。